内置的自检(BIST)功能可检测各种故障检测功能本身存在故障
发布时间:2024/3/11 8:44:19 访问次数:58
SRK1004的检测输入能够承受高达190V的电压，可以连接高低边功率开关管。共有四款产品供用户选择，仅器件选型就可以让用户优化应用设计，通过选择5.5V或 9V的栅极驱动电压，可以在设计选用理想的逻辑电平MOSFET、标准MOSFET或GaN晶体管，避免复杂的计算过程。
0.35μm CMOS生产工艺兼容的MPW服务，包括针对汽车和工业应用优化的拥有20V、50V及120V器件和嵌入式闪存IP的0.35μm高压CMOS工艺和0.35μm SiGe-BiCMOS工艺。
因此，在压电叠堆测试中，合理使用直流偏置功能对于保证测试结果的准确性和可靠性具有重要意义。
用于进行系统诊断的故障检测功能也包含在外设功能中。 内置的自检(BIST)功能可检测各种故障检测功能本身存在的故障。 错误控制模块(ECM)允许用户根据具体情况管理各功能发出的错误信号输入，进而帮助保持系统安全性和可靠性。
Sorensen品牌i-BEAM系列产品，这是一款高性能、双向、回馈式、程控直流电源系统。
SRK1004的电源电压是4V至36V，可以使用各种标准工业总线电源。宽压输入还可以灵活地调整降压比，以获得最佳的能效。
此外，该控制器还内置快速短路检测功能，有助于开发稳健可靠的设备。
在新推出的四款产品中，SRK1004A和SRK1004B的栅极驱动电压为5.5V，可与逻辑电平MOSFET或GaN晶体管配合使用。
栅极驱动电压9V的SRK1004C和SRK1004D适用采用标准栅极驱动信号的MOSFET。
SRK1004的检测输入能够承受高达190V的电压，可以连接高低边功率开关管。共有四款产品供用户选择，仅器件选型就可以让用户优化应用设计，通过选择5.5V或 9V的栅极驱动电压，可以在设计选用理想的逻辑电平MOSFET、标准MOSFET或GaN晶体管，避免复杂的计算过程。
0.35μm CMOS生产工艺兼容的MPW服务，包括针对汽车和工业应用优化的拥有20V、50V及120V器件和嵌入式闪存IP的0.35μm高压CMOS工艺和0.35μm SiGe-BiCMOS工艺。
因此，在压电叠堆测试中，合理使用直流偏置功能对于保证测试结果的准确性和可靠性具有重要意义。
用于进行系统诊断的故障检测功能也包含在外设功能中。 内置的自检(BIST)功能可检测各种故障检测功能本身存在的故障。 错误控制模块(ECM)允许用户根据具体情况管理各功能发出的错误信号输入，进而帮助保持系统安全性和可靠性。
Sorensen品牌i-BEAM系列产品，这是一款高性能、双向、回馈式、程控直流电源系统。
SRK1004的电源电压是4V至36V，可以使用各种标准工业总线电源。宽压输入还可以灵活地调整降压比，以获得最佳的能效。
此外，该控制器还内置快速短路检测功能，有助于开发稳健可靠的设备。
在新推出的四款产品中，SRK1004A和SRK1004B的栅极驱动电压为5.5V，可与逻辑电平MOSFET或GaN晶体管配合使用。
栅极驱动电压9V的SRK1004C和SRK1004D适用采用标准栅极驱动信号的MOSFET。
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公网安备44030402000607
